產(chǎn)品分類(lèi)
Product CategorySuperViewW1光學(xué)表面輪廓儀中圖儀器可測(cè)各類(lèi)從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級(jí)別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等參數(shù),是目前三維形貌測(cè)量領(lǐng)域高精度的檢測(cè)儀器之一。
SuperViewW系列高精密光學(xué)輪廓測(cè)量?jī)x由照明光源系統(tǒng),光學(xué)成像系統(tǒng),垂直掃描系統(tǒng)以及數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)構(gòu)成。用于測(cè)量表面形貌或測(cè)量表面輪廓外,具有測(cè)量晶圓翹曲度的功能,非常適合晶圓,太陽(yáng)能電池和玻璃面板的翹曲度測(cè)量,應(yīng)變測(cè)量以及表面形貌測(cè)量。
SuperViewW1半導(dǎo)體薄膜光學(xué)輪廓無(wú)損檢測(cè)儀以白光干涉技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對(duì)器件表面進(jìn)行非接觸式掃描并建立表面3D圖像,通過(guò)系統(tǒng)軟件對(duì)器件表面3D圖像進(jìn)行數(shù)據(jù)處理與分析,并獲取反映器件表面質(zhì)量的2D、3D參數(shù),通過(guò)利用接觸式及非接觸式雙模式基于技術(shù)上的優(yōu)勢(shì)獲得獲得全面的表面特性。既可以用于科學(xué)研究,也可以用于工業(yè)產(chǎn)品的檢測(cè)。
中圖儀器W1光學(xué)全自動(dòng)三次元輪廓測(cè)量?jī)x采用光學(xué)干涉技術(shù)、精密Z向掃描模塊和3D重建算法組成測(cè)量系統(tǒng),保證測(cè)量精度高,且其隔振系統(tǒng)能夠有效隔離頻率2Hz以上絕大部分振動(dòng),消除地面振動(dòng)噪聲和空氣中聲波振動(dòng)噪聲,保障儀器在大部分的生產(chǎn)車(chē)間環(huán)境中能穩(wěn)定使用,獲得高測(cè)量重復(fù)性。
SuperViewW1光學(xué)輪廓粗糙度儀具有測(cè)量精度高、功能全面、操作便捷、測(cè)量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn),測(cè)量單個(gè)精密器件的過(guò)程用時(shí)2分鐘以?xún)?nèi),確保了高款率檢測(cè)。并且其特殊光源模式,可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精密器件表面的測(cè)量。
光學(xué)掃描式成像測(cè)量機(jī)輪廓儀,以光學(xué)成像測(cè)量系統(tǒng)為基礎(chǔ),配合高精度運(yùn)動(dòng)機(jī)構(gòu)和花崗巖龍門(mén)式底座,實(shí)現(xiàn)了測(cè)量精度、速度、穩(wěn)定的**結(jié)合;結(jié)合高精度圖像分析算法,并融入閃測(cè)原理,在測(cè)量范圍內(nèi),任意擺放工件位置、方向、角度,儀器都可自動(dòng)定位測(cè)量對(duì)象、匹配模板、測(cè)量評(píng)價(jià)、報(bào)表生成,真正實(shí)現(xiàn)快速精準(zhǔn)測(cè)量。
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