中圖儀器SuperViewW白光干涉三維形貌儀基于白光干涉原理,以3D非接觸方式,測量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸。白光干涉儀的特殊光源模式,可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細(xì)器件表面的測量。
CEM3000微觀尺度形貌觀測掃描電鏡采用鎢燈絲電子槍,其電子槍發(fā)射電流大、穩(wěn)定性好,以及對真空度要求不高,使得鎢燈絲臺式掃描電鏡能夠在較短的時(shí)間內(nèi)達(dá)到穩(wěn)定的工作狀態(tài)并獲得清晰的圖像,從而提高了檢測效率,節(jié)省了時(shí)間成本,特別適用于需要快速獲取結(jié)果的應(yīng)用場景。
CEM3000材料表征SEM掃描電鏡采用的鎢燈絲電子槍,發(fā)射電流大、穩(wěn)定性好,以及對真空度要求不高。臺式電鏡無需占據(jù)大量空間來容納整個(gè)電鏡系統(tǒng),這使其甚至能夠出現(xiàn)在用戶日常工作的桌面上,在用戶手邊實(shí)時(shí)呈現(xiàn)所得結(jié)果。
CEM3000桌面式掃描電子顯微鏡采用的鎢燈絲電子槍,發(fā)射電流大、穩(wěn)定性好,以及對真空度要求不高。臺式電鏡無需占據(jù)大量空間來容納整個(gè)電鏡系統(tǒng),這使其甚至能夠出現(xiàn)在用戶日常工作的桌面上,在用戶手邊實(shí)時(shí)呈現(xiàn)所得結(jié)果。
NS系列國產(chǎn)探針式臺階儀通過2μm金剛石探針與LVDC傳感器的協(xié)同工作,結(jié)合亞埃級分辨率(5 Å)與智能化分析軟件,可精準(zhǔn)測量臺階高度(納米至1050μm)、表面粗糙度(Ra、Rz等參數(shù))、膜層厚度及應(yīng)力分布,為材料研發(fā)、工藝優(yōu)化與質(zhì)量管控提供可靠數(shù)據(jù)支持。
中圖儀器國內(nèi)自研高分辨率掃描電子顯微鏡采用的鎢燈絲電子槍,發(fā)射電流大、穩(wěn)定性好,以及對真空度要求不高。臺式電鏡無需占據(jù)大量空間來容納整個(gè)電鏡系統(tǒng),這使其甚至能夠出現(xiàn)在用戶日常工作的桌面上,在用戶手邊實(shí)時(shí)呈現(xiàn)所得結(jié)果。
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